1、測(cè)試基本原則
以標(biāo)準(zhǔn)（IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn)）、開(kāi)發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試規(guī)范為依據(jù)，以測(cè)試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩，站在用戶的角度上對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)測(cè)，將功能缺陷與故障隱患暴露在測(cè)試階段。
模塊指標(biāo)盤踞以開(kāi)發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，當(dāng)測(cè)試項(xiàng)目在開(kāi)發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中未明確界定時(shí)，以測(cè)試規(guī)范中系統(tǒng)指標(biāo)的默認(rèn)參考指標(biāo)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
測(cè)試工作不受項(xiàng)目開(kāi)發(fā)組態(tài)度與思路及其他干擾測(cè)試過(guò)程因素的影響，獨(dú)立按照測(cè)試流程進(jìn)行。
對(duì)于樣機(jī)階段的模塊測(cè)試（模塊的優(yōu)化測(cè)試?yán)猓紫冗M(jìn)行環(huán)路的測(cè)試，環(huán)路測(cè)試不合格，測(cè)試結(jié)束，模塊退回項(xiàng)目組修改以后，重新提交測(cè)試申請(qǐng)，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測(cè)試。
樣機(jī)測(cè)試中，如果因測(cè)試問(wèn)題較嚴(yán)重，已影響模塊測(cè)試工作的順利進(jìn)行，需停止測(cè)試，方允許在受測(cè)試系統(tǒng)上進(jìn)行修改，項(xiàng)目開(kāi)發(fā)組對(duì)問(wèn)題進(jìn)行修改并完成自測(cè)試后，重新提交測(cè)試申請(qǐng)，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測(cè)試。其余情況下，測(cè)試問(wèn)題只能在第二套樣機(jī)上進(jìn)行修改及測(cè)試，并進(jìn)行記錄。在下一測(cè)試階段，對(duì)修改后的測(cè)試問(wèn)題進(jìn)行系統(tǒng)驗(yàn)證并進(jìn)行其他項(xiàng)目測(cè)試。
中試測(cè)試著重設(shè)計(jì)產(chǎn)品的復(fù)制結(jié)果——復(fù)制品性能、指標(biāo)的達(dá)標(biāo)情況。
2 技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明
開(kāi)發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)低于業(yè)界相關(guān)的規(guī)定時(shí)，需修改開(kāi)發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，否則依據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)判定開(kāi)發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合格，并提請(qǐng)總體辦重新對(duì)開(kāi)發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)審。
?。?）指標(biāo)界定
部標(biāo)為最低標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)開(kāi)發(fā)規(guī)格書優(yōu)于部標(biāo)、國(guó)標(biāo)或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，以開(kāi)發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)：未作特殊說(shuō)明的指標(biāo)為開(kāi)發(fā)規(guī)格書、項(xiàng)目任務(wù)書及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中界定的指標(biāo)要求，是產(chǎn)品必須具備的基本指標(biāo)。
?。?）牽引指標(biāo)
遵照“以測(cè)試技術(shù)牽引開(kāi)發(fā)技術(shù)”的原則，向國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)靠攏，用以牽引公司產(chǎn)品技術(shù)的發(fā)展類指標(biāo)。
3 不合格測(cè)試項(xiàng)目分類原則
3.1 A類問(wèn)題（致命問(wèn)題）：
威脅用戶人身或財(cái)產(chǎn)安全的所以項(xiàng)目；
引起產(chǎn)品不能正常工作或性能嚴(yán)重劣化的所以項(xiàng)目。
3.2 B類問(wèn)題（嚴(yán)重問(wèn)題）：
技術(shù)指標(biāo)未能達(dá)到產(chǎn)品開(kāi)發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的項(xiàng)目；
各種非破壞性極限情形下（如極限瞬態(tài)等）可能導(dǎo)致產(chǎn)品損壞的項(xiàng)目；
環(huán)路測(cè)試裕量不足。
3.3 C類問(wèn)題（一般問(wèn)題）：
不影響產(chǎn)品功能與性能之項(xiàng)目，如：產(chǎn)品外觀及標(biāo)志未合格項(xiàng)目、測(cè)試規(guī)范沒(méi)有界定的測(cè)量點(diǎn)的局部溫升等項(xiàng)目；
技術(shù)指標(biāo)未達(dá)到牽引指標(biāo)之項(xiàng)目；
裕量測(cè)試不足之測(cè)試項(xiàng)目（環(huán)路裕量測(cè)試不足屬嚴(yán)重問(wèn)題）。
3.4 D類問(wèn)題（討論問(wèn)題）：
研究性測(cè)試未合格項(xiàng)目；
開(kāi)發(fā)規(guī)格書（或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)）及測(cè)試規(guī)范中均未明確界定的項(xiàng)目；
對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目不合格結(jié)束，送測(cè)方與測(cè)試方存在分歧且無(wú)判定參考依據(jù)的測(cè)試項(xiàng)目；
測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題對(duì)于用戶影響不能確認(rèn)的。
4產(chǎn)品判斷準(zhǔn)則
4.1 合格判定
無(wú)A、B不合格項(xiàng)，C類不合格向不大于3項(xiàng)，判定模塊合格。
4.2 不合格判定
A、B類問(wèn)題，一項(xiàng)不合格，即判定模塊不合格；
C類問(wèn)題，三項(xiàng)（不含三項(xiàng)）以上不合格，即判定模塊不合格。
4.3 D類問(wèn)題判定
由總體組和專家組，參照技術(shù)、市場(chǎng)、生產(chǎn)、成本等等限制條件確定其對(duì)系統(tǒng)合格與否的影響。
對(duì)D類問(wèn)題的判定結(jié)果，由總體組和專家組負(fù)責(zé)，不記如測(cè)試部的評(píng)定指標(biāo)范圍。
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